Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
Доступно
1 из 5
Доступно
1 из 20
Доступно
1 из 5
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 3
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 2
Доступно
1 из 2
Доступно
1 из 2
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 2
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 2
Доступно
1 из 2
Доступно
1 из 2
537.533.35
Сортировать по: заглавиюдате издания

Доступно
1 из 5
Книга
Эгертон, Р. Ф.
Физические принципы электронной микроскопии: введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию
ISBN 978-5-948362-54-0
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Эгертон, Р. Ф.
Физические принципы электронной микроскопии: введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию
Серия: Сер. "Мир физики и техники"
Техносфера, 2010 г.ISBN 978-5-948362-54-0
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...

Доступно
1 из 20
Книга
Нолтинг, Б.
Новейшие методы исследования биосистем
Техносфера, 2005 г.
ISBN 978-5-948360-44-7
МИЭМ, уч.аб-т : MIEM, Study collection lending department, МИЭМ, контр.экз. ...
Нолтинг, Б.
Новейшие методы исследования биосистем
Техносфера, 2005 г.
ISBN 978-5-948360-44-7
МИЭМ, уч.аб-т : MIEM, Study collection lending department, МИЭМ, контр.экз. ...

Доступно
1 из 5
Книга
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963111-0-1
Мясницкая, контр.экз. : Myasnitskaya, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т :...
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963111-0-1
Мясницкая, контр.экз. : Myasnitskaya, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т :...

Доступно
1 из 1
Книга
Лейзеганг, З.
Электронная микроскопия
Изд-во иностр. лит., 1960 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Лейзеганг, З.
Электронная микроскопия
Изд-во иностр. лит., 1960 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 3
Книга
Хейденрайх, Р.
Основы просвечивающей электронной микроскопии
Мир, 1966 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Хейденрайх, Р.
Основы просвечивающей электронной микроскопии
Мир, 1966 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...

Доступно
1 из 1
Книга
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Наука, 1982 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Наука, 1982 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 2
Книга
Филибер, Ж.
Микроанализ и растровая электронная микроскопия
Металлургия, 1985 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Филибер, Ж.
Микроанализ и растровая электронная микроскопия
Металлургия, 1985 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...

Доступно
1 из 2
Книга
Рентгеновская оптика и микроскопия
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Рентгеновская оптика и микроскопия
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...

Доступно
1 из 2
Книга
Практическая растровая электронная микроскопия
Мир, 1978 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Практическая растровая электронная микроскопия
Мир, 1978 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...

Доступно
1 из 1
Книга
Петров, Н. Н.
Диагностика поверхности с помощью ионных пучков
Изд-во Ленингр. ун-та, 1977 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Петров, Н. Н.
Диагностика поверхности с помощью ионных пучков
Изд-во Ленингр. ун-та, 1977 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 1
Книга
Электронная микроскопия
Гос. изд-во технико-теорет. лит., 1954 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Электронная микроскопия
Гос. изд-во технико-теорет. лит., 1954 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 1
Книга
Ньюкирк, Д.
Прямое наблюдение несовершенств в кристаллах
Металлургия, 1964 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Ньюкирк, Д.
Прямое наблюдение несовершенств в кристаллах
Металлургия, 1964 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 1
Книга
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии
Мир, 1972 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии
Мир, 1972 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 1
Книга
Амелинкс, С.
Методы прямого наблюдения дислокаций
Мир, 1968 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Амелинкс, С.
Методы прямого наблюдения дислокаций
Мир, 1968 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 2
Книга
Томас, Г.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов
Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1983 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Томас, Г.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов
Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1983 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...

Доступно
1 из 1
Книга
Агар, А. У.
Техника электронной микроскопии
Мир, 1965 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Агар, А. У.
Техника электронной микроскопии
Мир, 1965 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 1
Книга
Спенс, Дж.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy
Спенс, Дж.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy

Доступно
1 из 2
Книга
Гудхью, П. Дж.
Практические методы в электронной микроскопии
Машиностроение, 1980 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Гудхью, П. Дж.
Практические методы в электронной микроскопии
Машиностроение, 1980 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...

Доступно
1 из 2
Книга
Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении
Металлургия, 1984 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении
Металлургия, 1984 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...

Доступно
1 из 2
Книга
Хирш, П.
Электронная микроскопия тонких кристаллов
Мир, 1968 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...
Хирш, П.
Электронная микроскопия тонких кристаллов
Мир, 1968 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...