Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сих, М. П. - Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Сих, М. П. - Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Доступно
1 из 3
1 из 3
Книга
Автор: Сих, М. П.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Автор: Сих, М. П.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
535 А64
Сих, М. П.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, и др.; Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха; Пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза. – М.: Мир, 1987. – 598 с.
535.33
общий = Физика [53] : оптика [535]
175790 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 535 А64
175791 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 535 А64
175792 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 535 А64
535 А64
Сих, М. П.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, и др.; Под ред. Д. Бриггса, М. П. Сиха; Пер. с англ. под ред. В. И. Раховского, И. С. Реза. – М.: Мир, 1987. – 598 с.
535.33
общий = Физика [53] : оптика [535]
175790 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 535 А64
175791 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 535 А64
175792 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 535 А64