Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Фелдман, Л. - Основы анализа поверхности и тонких пленок
Фелдман, Л. - Основы анализа поверхности и тонких пленок
Доступно
1 из 2
1 из 2
Книга
Автор: Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Издательство: Мир, 1989 г.
ISBN 5-03-001017-3
Автор: Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Издательство: Мир, 1989 г.
ISBN 5-03-001017-3
Заказать 
На полку
Книга
539 Ф374
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. – М.: Мир, 1989. – 342 с. - ISBN 5-03-001017-3.
539.2
539.1
535.33
общий = Физика [53] : строение материи [539] : физика твердого тела. Свойства и структура молекулярных систем [539.2]
общий = Физика [53] : строение материи [539] : ядерная, атомная и молекулярная физика [539.1]
общий = Физика [53] : оптика [535]
178339 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 539 Ф374
195248 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 539 Ф374
539 Ф374
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер; Пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого. – М.: Мир, 1989. – 342 с. - ISBN 5-03-001017-3.
539.2
539.1
535.33
общий = Физика [53] : строение материи [539] : физика твердого тела. Свойства и структура молекулярных систем [539.2]
общий = Физика [53] : строение материи [539] : ядерная, атомная и молекулярная физика [539.1]
общий = Физика [53] : оптика [535]
178339 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 539 Ф374
195248 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 539 Ф374