Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Воробьев, В. Л. - Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
Воробьев, В. Л. - Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Воробьев, В. Л.
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
Издательство: Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-006639-7
Автор: Воробьев, В. Л.
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
Издательство: Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-006639-7
Заказать 
На полку
Книга
621.3 В751
Воробьев, В. Л.
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств / В. Л. Воробьев. – М.: Наука, 1989. – 160 с. - ISBN 5-02-006639-7.
621.3.049.77
621.3.019.3
общий = Общее машиностроение. Ядерная технология. Электротехника. Технология машиностроения = mechanical engineering in general. Nuclear technology. Electrical engineering. Machinery [621] : электротехника. ТОЭ = electrical engineeging. [621.3] : микроэлектроника. Интегральные схемы = microelectronics. Integrated circuit [621.3.049.77]
общий = Физика [53] : термодинамика. Статистическая физика [536]
189778 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 621.3 В751
621.3 В751
Воробьев, В. Л.
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств / В. Л. Воробьев. – М.: Наука, 1989. – 160 с. - ISBN 5-02-006639-7.
621.3.049.77
621.3.019.3
общий = Общее машиностроение. Ядерная технология. Электротехника. Технология машиностроения = mechanical engineering in general. Nuclear technology. Electrical engineering. Machinery [621] : электротехника. ТОЭ = electrical engineeging. [621.3] : микроэлектроника. Интегральные схемы = microelectronics. Integrated circuit [621.3.049.77]
общий = Физика [53] : термодинамика. Статистическая физика [536]
189778 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 621.3 В751