Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сезонов, Ю. И. - Термоактивационная токовая спектроскопия электрически активных дефектов в фото- и термоэлектретир...
Сезонов, Ю. И. - Термоактивационная токовая спектроскопия электрически активных дефектов в фото- и термоэлектретир...
Экз. чит. зала
Диссертация
Автор: Сезонов, Ю. И.
Термоактивационная токовая спектроскопия электрически активных дефектов в фото- и термоэлектретир... : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10
Издательство: МИЭМ, 1987 г.
ISBN отсутствует
Автор: Сезонов, Ю. И.
Термоактивационная токовая спектроскопия электрически активных дефектов в фото- и термоэлектретир... : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10
Издательство: МИЭМ, 1987 г.
ISBN отсутствует
На полку
Диссертация
Дис. С287
Сезонов, Ю. И.
Термоактивационная токовая спектроскопия электрически активных дефектов в фото- и термоэлектретированных диэлектрических слоях МДП и МДМ структур [Книга]: дис ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / Ю. И. Сезонов. – М.: МИЭМ, 1987. – 150 с. - Библиогр.: с.140-150.
общий = Общее машиностроение. Ядерная технология. Электротехника. Технология машиностроения = mechanical engineering in general. Nuclear technology. Electrical engineering. Machinery [621] : электротехника. ТОЭ = electrical engineeging. [621.3] : проводники и полупроводники по виду материала = conductors and semiconductors [621.315.5]
Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, чит.зал : MIEM, Reading hall РК Научный Дис. С287
Дис. С287
Сезонов, Ю. И.
Термоактивационная токовая спектроскопия электрически активных дефектов в фото- и термоэлектретированных диэлектрических слоях МДП и МДМ структур [Книга]: дис ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / Ю. И. Сезонов. – М.: МИЭМ, 1987. – 150 с. - Библиогр.: с.140-150.
общий = Общее машиностроение. Ядерная технология. Электротехника. Технология машиностроения = mechanical engineering in general. Nuclear technology. Electrical engineering. Machinery [621] : электротехника. ТОЭ = electrical engineeging. [621.3] : проводники и полупроводники по виду материала = conductors and semiconductors [621.315.5]
Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, чит.зал : MIEM, Reading hall РК Научный Дис. С287