Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Talanin, I. E. - The formation of structural imperfections in semiconductor silicon
Talanin, I. E. - The formation of structural imperfections in semiconductor silicon
Нет экз.
Электронные книги
Автор: Talanin, I. E.
The formation of structural imperfections in semiconductor silicon
Издательство: Cambridge Scholars Publishing, 2018 г.
ISBN 9781527523425
Автор: Talanin, I. E.
The formation of structural imperfections in semiconductor silicon
Издательство: Cambridge Scholars Publishing, 2018 г.
ISBN 9781527523425
На полку
Электронные книги
Talanin, I. E.
The formation of structural imperfections in semiconductor silicon [Электронные книги] / I. E. Talanin, V. I. Talanin. – Newcastle upon Tyne: Cambridge Scholars Publishing, 2018. – 269 c. – Режим доступа : https://elib.hse.ru/Ebook/pdf.php?name=Ebsco_Ebook_1986604.pdf. – На англ. яз. – ISBN 9781527523425.
546.28
548.55
620.178.152.341.4
общий = Химия [54] : неорганическая химия [546]
общий = Химия [54] : кристаллография [548]
общий = Испытание материалов = materials testing [620] : испытание материалов. Дефекты материалов. Защита = material testing. Material failure. Protection [620.1]
Talanin, I. E.
The formation of structural imperfections in semiconductor silicon [Электронные книги] / I. E. Talanin, V. I. Talanin. – Newcastle upon Tyne: Cambridge Scholars Publishing, 2018. – 269 c. – Режим доступа : https://elib.hse.ru/Ebook/pdf.php?name=Ebsco_Ebook_1986604.pdf. – На англ. яз. – ISBN 9781527523425.
546.28
548.55
620.178.152.341.4
общий = Химия [54] : неорганическая химия [546]
общий = Химия [54] : кристаллография [548]
общий = Испытание материалов = materials testing [620] : испытание материалов. Дефекты материалов. Защита = material testing. Material failure. Protection [620.1]