Каталог печатных изданий библиотеки НИУ ВШЭ

eng|rus
Пожалуйста, бронируйте контрольные экземпляры только тех книг, которых нет
в наличии ни в читальных залах, ни в открытом доступе, ни на научном абонементе.
По вопросам доступа к электронному каталогу обращайтесь в
отдел информационных систем и электронных ресурсов Библиотеки

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Электронный каталог Мандельштамовского центра
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник индексов УДК

К списку индексов УДК

537.533.35

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Сортировать по: заглавиюдате издания
1 | 2 | вперед >>
Физические принципы электронной микроскопии
Доступно
 1 из 5
Книга
Эгертон, Р. Ф.
Физические принципы электронной микроскопии: введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию
Серия: Сер. "Мир физики и техники"
Техносфера, 2010 г.
ISBN 978-5-948362-54-0
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...


Заказать Заказать

На полку На полку

Новейшие методы исследования биосистем
Доступно
 1 из 20
Книга
Нолтинг, Б.
Новейшие методы исследования биосистем
Серия: Сер. "Мир биологии и медицины"
Техносфера, 2005 г.
ISBN 978-5-948360-44-7
МИЭМ, уч.аб-т : MIEM, Study collection lending department, МИЭМ, контр.экз. ...


Заказать Заказать

На полку На полку

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий
Доступно
 1 из 5
Книга

 Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963111-0-1
МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department, Ст. Басманна...


Заказать Заказать

На полку На полку

Электронная микроскопия
Доступно
 1 из 1
Книга
Лейзеганг, З.
Электронная микроскопия
Изд-во иностр. лит., 1960 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy


Заказать Заказать

На полку На полку

Основы просвечивающей электронной микроскопии
Доступно
 1 из 3
Книга
Хейденрайх, Р.
Основы просвечивающей электронной микроскопии
Мир, 1966 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...


Заказать Заказать

На полку На полку

Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Доступно
 1 из 1
Книга

 Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Наука, 1982 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy


Заказать Заказать

На полку На полку

Микроанализ и растровая электронная микроскопия
Доступно
 1 из 2
Книга
Филибер, Ж.
Микроанализ и растровая электронная микроскопия
Металлургия, 1985 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...


Заказать Заказать

На полку На полку

Рентгеновская оптика и микроскопия
Доступно
 1 из 2
Книга

 Рентгеновская оптика и микроскопия
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...


Заказать Заказать

На полку На полку

Практическая растровая электронная микроскопия
Доступно
 1 из 2
Книга

 Практическая растровая электронная микроскопия
Мир, 1978 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy, МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic col...


Заказать Заказать

На полку На полку

Диагностика поверхности с помощью ионных пучков
Доступно
 1 из 1
Книга
Петров, Н. Н.
Диагностика поверхности с помощью ионных пучков
Изд-во Ленингр. ун-та, 1977 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy


Заказать Заказать

На полку На полку

Электронная микроскопия
Доступно
 1 из 1
Книга

 Электронная микроскопия
Гос. изд-во технико-теорет. лит., 1954 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy


Заказать Заказать

На полку На полку

Прямое наблюдение несовершенств в кристаллах
Доступно
 1 из 1
Книга
Ньюкирк, Д.
Прямое наблюдение несовершенств в кристаллах
Металлургия, 1964 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy


Заказать Заказать

На полку На полку

Методика электронной микроскопии
Доступно
 1 из 1
Книга
Шиммель, Г.
Методика электронной микроскопии
Мир, 1972 г.
ISBN отсутствует
МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy


Заказать Заказать

На полку На полку