Каталог печатных изданий библиотеки НИУ ВШЭ

eng|rus
Пожалуйста, бронируйте контрольные экземпляры только тех книг, которых нет
в наличии ни в читальных залах, ни в открытом доступе, ни на научном абонементе.

По вопросам доступа к электронному каталогу обращайтесь в
отдел информационных систем и электронных ресурсов Библиотеки

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Электронный каталог Мандельштамовского центра
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Раков, А. В. - Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур

Раков, А. В. - Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур

Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур
Доступно
 1 из 2
Книга
Автор:
Раков, А. В.
Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур
Издательство: Сов. радио, 1975 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
535 Р193

Раков, А. В.
Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур / А. В. Раков. – М.: Сов. радио, 1975. – 176 с.

535.33
535.2

общий = Физика [53] : оптика [535]
общий = Физика [53] : оптика [535] : распространение и энергетика излучения. Фотометрия [535.2]

177306 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 535 Р193
177307 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 535 Р193



© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2023  v.20.125