Каталог печатных изданий библиотеки НИУ ВШЭ

👓
eng|rus
Пожалуйста, бронируйте контрольные экземпляры только тех книг, которых нет
в наличии ни в читальных залах, ни в открытом доступе, ни на научном абонементе.

По вопросам доступа к электронному каталогу обращайтесь в
отдел информационных систем и электронных ресурсов Библиотеки

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Электронный каталог Мандельштамовского центра
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Эгертон, Р. Ф. - Физические принципы электронной микроскопии

Эгертон, Р. Ф. - Физические принципы электронной микроскопии

Доступно
 1 из 5
Книга
Автор: Эгертон, Р. Ф.
Физические принципы электронной микроскопии : введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию
Серия: Сер. "Мир физики и техники"
Издательство: Техносфера, 2010 г.
ISBN 978-5-948362-54-0

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
53 Э172

Эгертон, Р. Ф.
Физические принципы электронной микроскопии: введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию / Р. Ф. Эгертон; Пер. с англ. С. А. Иванова. – М.: Техносфера, 2010. – 300 с. – (Сер. "Мир физики и техники"; 18). – ISBN 978-5-948362-54-0.

537
537.533.35

общий = Физика [53] : электричество. Магнетизм. Электромагнетизм [537]

157509 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 53 Э172
157510 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 53 Э172
157511 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 53 Э172
157512 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 53 Э172
157513 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 53 Э172



© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.204