Каталог печатных изданий библиотеки НИУ ВШЭ

👓
eng|rus
Пожалуйста, бронируйте контрольные экземпляры только тех книг, которых нет
в наличии ни в читальных залах, ни в открытом доступе, ни на научном абонементе.

По вопросам доступа к электронному каталогу обращайтесь в
отдел информационных систем и электронных ресурсов Библиотеки

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Электронный каталог Мандельштамовского центра
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий

Доступно
 1 из 5
Книга
Автор:
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий : методы и применение
Издательство: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963111-0-1

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
620.3 Р245

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение / Р. Андерхальт [и др.]; Под ред. Уэйли Жу, Т. П. Каминской; Пер. с англ. С. А. Иванова. – М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. – 582 с. – Scanning microscopy for nanotechnology. – ISBN 978-5-9963111-0-1.

620.3
537.533.35

общий = Физика [53] : электричество. Магнетизм. Электромагнетизм [537] : электронная микроскопия [537.533.35]
общий = Нанотехнология = nanotechnology [620.3]

161064 Библиотека НИУ ВШЭ Мясницкая, контр.экз. : Myasnitskaya, Single copy Научный 620.3 Р245
161065 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 620.3 Р245
161066 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 620.3 Р245
161067 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 620.3 Р245
161068 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, науч.аб-т : MIEM, Academic collection lending department Научный 620.3 Р245



© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.204