Каталог печатных изданий библиотеки НИУ ВШЭ

👓
eng|rus
Пожалуйста, бронируйте контрольные экземпляры только тех книг, которых нет
в наличии ни в читальных залах, ни в открытом доступе, ни на научном абонементе.

По вопросам доступа к электронному каталогу обращайтесь в
отдел информационных систем и электронных ресурсов Библиотеки

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Электронный каталог Мандельштамовского центра
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Спенс, Дж. - Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения

Спенс, Дж. - Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения

Доступно
 1 из 1
Книга
Автор: Спенс, Дж.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Издательство: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
537 С716

Спенс, Дж.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Дж. Спенс; Пер. с англ. под ред. В. Н. Рожанского. – М.: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986. – 320 с.

537.533.35

общий = Физика [53] : электричество. Магнетизм. Электромагнетизм [537] : электронная микроскопия [537.533.35]

178028 Библиотека НИУ ВШЭ МИЭМ, контр.экз. : MIEM, Single copy Научный 537 С716



© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.204